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    測量原理:

     

    干涉后的紅外光以全反射的角度(例如45度)入射ATR晶體,紅外光在晶體表面形成一個衰減式的紅外波,被緊密覆蓋在晶體表面的樣品吸收后,檢測器采集反射部分的紅外光的強度,這種測量方式稱為衰減全反射測量,即ATR測量。

    中紅外ATR通常選擇的晶體材料有金剛石(Diamond)、硒化鋅(ZnSe)、鍺晶體(Ge)、硅晶體(Si)等,因此測量范圍因材料選擇而有所不同。

    ATR滿足不同的應用場景,熒颯光學可以提供單次測量或多次測量附件。

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    分析對象:

     

    固體表面、粉末、薄膜、聚合物、瀝青、膠狀物、油漆等透射難以測量的樣品、非破壞測量

    適合機型:

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    便攜式紅外光譜儀,

    體積緊湊,

    既可戶外使用,

    也可實驗室使用;

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    臺式紅外光譜儀,

    單樣品腔設計,

    既可透射測量,

    也可安裝ATR等研究型附件;

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    臺式紅外光譜儀,

    雙樣品腔設計,

    透射測量與其他測量方式互不干擾,

    切換方便;

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    便攜箱一體化紅外光譜儀,

    集成度高,

    操作方便;


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